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光耦电流传输比测试(光耦传输比太小了会怎么样?)

本篇目录:

怎样对光电耦合器进行检测

1、用两个万用表就可以测了。光电耦合器由发光二极管和受光三极管封装组成。如光电耦合器4N25,采用DIP-6封装,共六个引脚,①、②脚分别为阳、阴极,③脚为空脚,④、⑤、⑥脚分别为三极管的e、c、b极。

2、比较法 拆下怀疑有问题的光耦,用万用表测量其内部二极管;三极管的正反向电阻值,用其与好的光耦对应脚的测量值进行比较,若阻值相差较大,则说明光耦已损坏。

光耦电流传输比测试(光耦传输比太小了会怎么样?)-图1

3、指针向右偏转角度越大,说明光耦的光电转换效率越高,即传输比越高,反之越低;若表针不动,则说明光耦已损坏。3.光电效应判断法。仍以PC111光耦合器的检测为例。

4、光电耦合器的检测判断光耦的好坏,可在路测量其内部.二极管和三极管的正反向电阻来确定。更可靠的检测方法是以下三种。

5、间脚电阻发生变化,说明该器件是好的。注:不能用R×10k档,否则导致发射管击穿。简易测试电路,当接通电源后,LED不发光,按下SB,LED会发光,调节RP、LED的发光强度会发生变化,说明被测光电耦合器是好的。

光耦电流传输比测试(光耦传输比太小了会怎么样?)-图2

6、但由于输入二极管端无光电信号而不导通,液晶显示器显示溢出符号。

怎样判断光耦的好坏

1、判断光耦的好坏,可在路测量其内部二极管和三极管的正反向电阻来确定。更可靠的检测方法是以下三种。

2、外观检查。首先,查看光耦的外观是否完好无损。注意检查光耦的引脚是否弯曲或断裂,并确保没有氧化或腐蚀现象。此外,还应检查光耦的封装是否完整,没有裂纹或损坏。电气性能测试。

光耦电流传输比测试(光耦传输比太小了会怎么样?)-图3

3、检测光耦的好坏,可以在板带电的情况下,测输入驱动波形和输出驱动波形:如果仅有输入没有输出,那光耦肯定有问题;如果输入和输出波形都有,那就说明光耦没问题。这时可以查电源和驱动信号是否正常等等。

4、外观检查:先看光耦的外观是否完整,是否有明显的物理损坏,如损坏或裂纹。如果有明显的物理损坏,那么光耦可能已经损坏,需要更换。正常工作电压测试:通过测量光耦的工作电压来判断其是否正常工作。

5、方法2:光耦PC817的判断方法,先用万用表二极管档检测出光耦的发光端,再在发光端加以五伏左右的电压,判断三极管端好坏。

光耦合器的检测方法

指针向右偏转角度越大,说明光耦的光电转换效率越高,即传输比越高,反之越低;若表针不动,则说明光耦已损坏。光电效应判断法仍以EL817光耦合器的检测为例,检测电路如图2所示。

.光电效应判断法。仍以PC111光耦合器的检测为例。

光电耦合器的检测判断光耦的好坏,可在路测量其内部.二极管和三极管的正反向电阻来确定。更可靠的检测方法是以下三种。

用数字万用表如何测光耦的好坏

1、如果指针摆动,说明光耦是好的,如果不摆动,则说明光耦已损坏。万用表指针摆动偏转角度越大,表明光电转换灵敏度越高。光耦 用两个万用表就可以测了。光电耦合器由发光二极管和受光三极管封装组成。

2、检查光耦(光电耦合器)的好坏主要有以下几种方法:外观检查:检查光耦的外观是否有损坏或裂纹等。使用万用表检测:用万用表测量光耦内部二极管及三极管的正反向电阻值,如果与正常值相差过大,说明光耦可能已损坏。

3、方法1:用数字万用表的PN结测量端,红表笔“电池+极”接光耦的“1”端,黑表笔“电池-极”接光耦的“2”端(即使光耦的发光二极管正向导通)。

4、万用表是一种多功能的电子测量仪器,可以用来测试电气参数。当我们需要测试光耦的好坏时,万用表也可以派上用场。第一步,将万用表调至电阻档位。第二步,将光耦的输入端和输出端分别与万用表的两个测量引脚相连。

光耦主要的参数是什么?

入出间隔离电压VIO:光耦合器输入端和输出端之间绝缘耐压值.。

光耦的技术参数主要包括LED正向压降VF、正向电流IF、电流传输比CTR、输入级与输出级之间的绝缘电阻、集电极-发射极反向击穿电压V(BR)CEO、集电极-发射极饱和电压VCE(sat)。

采用一只光敏三极管的光耦合器,CTR的范围大多为20%~300%(如4N35),而PC817则为80%~160%,达林顿型光耦合器(如4N30)可达100%~5000%。这表明欲获得同样的输出电流,后者只需较小的输入电流。

输入特性光耦合器的输入特性实际也就是其内部发光二极管的特性。常见的参数有: 正向工作电压Vf(Forward Voltage)Vf是指在给定的工作电流下,LED本身的压降。

到此,以上就是小编对于光耦传输比太小了会怎么样?的问题就介绍到这了,希望介绍的几点解答对大家有用,有任何问题和不懂的,欢迎各位老师在评论区讨论,给我留言。

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